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奧林巴斯XRF分析儀如何測(cè)量涂層的厚度?

我們的客戶(hù)使用Vanta手持式X射線熒光(XRF)分析儀可以確定合金、金屬、土壤及其它材料的化學(xué)成分。但是,您可否知道我們奧林巴斯的分析儀還可以測(cè)量涂層的厚度?配備了涂層方式的Vanta分析儀可以測(cè)量金屬、塑料、玻璃,甚至木材表面的涂層厚度,且可測(cè)量多層涂層的厚度

 

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涂層材料無(wú)處不在

 

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  涂層具有裝飾、保護(hù)或其他功能性作用。例如:汽車(chē)工業(yè)中使用的涂層可以起到防腐蝕、裝飾、防磨損,以及保護(hù)電子器件的作用。同樣,航空航天工業(yè)使用的涂層有助于減少阻力,防止出現(xiàn)殘?jiān)槠头e累的污垢,從而可以降低燃料的消耗。

  工業(yè)產(chǎn)品普遍使用涂層,因?yàn)榇蠖鄶?shù)涂層都起到了非常重要的作用。鎳具有堅(jiān)韌、耐用、延展性好的特性,因而成為一種廣受歡迎的涂料。根據(jù)ASTM針對(duì)鋼材料產(chǎn)品的優(yōu)質(zhì)表面處理所推薦的標(biāo)準(zhǔn),烤面包機(jī)、華夫餅機(jī)、烤肉機(jī),以及類(lèi)似的電器用品都應(yīng)該使用約10微米的鎳涂層。鎳還具有防潮的性能,因此爐灶的上表面、家具、浴室配件和廚柜也會(huì)使用鎳涂層。另一種廣受歡迎的涂料是鉻,鉻與鎳的性能相似,而且,具有更強(qiáng)的抗腐蝕和抗磨損的性能。

使用涂料的其他常見(jiàn)應(yīng)用包括:

 

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屏蔽電子器件:導(dǎo)電的涂層用于屏蔽塑料設(shè)備

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建筑飾面:涂層可以保護(hù)鋼鐵材料免受銹蝕,避免銅和黃銅材料失去光澤,避免鋅材和鋁材出現(xiàn)污漬

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太陽(yáng)能電池:許多太陽(yáng)能電池覆蓋有薄合金或聚合物涂層

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工具鋼:鈦制和鎢制硬質(zhì)合金有助于增加防磨性和耐用性

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電氣布線:鋅涂層和鎳涂層正在取代過(guò)去的鎘涂層

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XRF分析儀如何測(cè)量涂層厚度


  準(zhǔn)確的厚度測(cè)量結(jié)果有助于制造商提供質(zhì)量上乘的產(chǎn)品,同時(shí)還可以控制成本。涂層的厚度應(yīng)該恰到好處;產(chǎn)品的涂層太厚會(huì)增加制造成本。客戶(hù)對(duì)來(lái)料進(jìn)行質(zhì)量控制時(shí),也會(huì)對(duì)涂層進(jìn)行檢測(cè):確保所接收來(lái)料使用的是正確的涂層材料,且涂層的厚度準(zhǔn)確無(wú)誤。

  取決于不同的材料,奧林巴斯Vanta手持式XRF分析儀可以測(cè)量范圍從0.00到約60.00微米的涂層厚度。分析儀發(fā)出X射線,X射線撞擊到被測(cè)樣本,使樣本發(fā)出熒光。分析儀探測(cè)到返回的X射線,并使用獲得的數(shù)據(jù)計(jì)算涂層的厚度。

  根據(jù)國(guó)際材料工程師和科學(xué)家協(xié)會(huì)(ASM)的防腐和防磨表面工程要求,屬于這個(gè)范圍的各種表面工程技術(shù)包括電鍍(機(jī)械、化學(xué)、電解)、蒸發(fā)(化學(xué)和物理沉積)和粘合(樹(shù)脂或漆料)。

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Vanta分析儀最多可檢測(cè)三層材料的厚度

 

 

 

奧林巴斯XRF涂層厚度的優(yōu)勢(shì)


  使用一款可以快速、有效地完成無(wú)損檢測(cè)的工具,有助于在生產(chǎn)線和野外的工作人員做好產(chǎn)品的質(zhì)量控制工作。奧林巴斯手持式Vanta分析儀可以在10秒鐘的短時(shí)間內(nèi)提供檢測(cè)結(jié)果,而且通過(guò)30秒鐘就能完成的單點(diǎn)校準(zhǔn)可以對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行完善。手持式XRF分析儀也不會(huì)損壞被測(cè)材料。

  由于手持式分析儀具有小巧、便攜的特性,因此可以非常方便地檢測(cè)較大的樣本,而使用臺(tái)式分析儀對(duì)這類(lèi)較大的樣本進(jìn)行檢測(cè)時(shí),可能需要對(duì)樣本進(jìn)行切割,才能將樣本放入分析儀中。

 

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鍍層測(cè)試結(jié)果界面簡(jiǎn)潔明了

 

Vanta分析儀的鍍層模式

 

元素配置:可分析的元素為原子數(shù)大于鈦的元素,包括鈦元素。同一種元素不能在多個(gè)涂層中被重復(fù)分析,包括基底材料。

 

可選的實(shí)證單點(diǎn)校準(zhǔn):用戶(hù)可以使用一種內(nèi)部認(rèn)證的樣本對(duì)校準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整。

 

層的數(shù)量:Vanta分析儀的鍍層模式可以最多測(cè)量3層材料的厚度,不過(guò)各層材料要足夠薄,以使X射線從底層材料返回到探測(cè)器。

 

基底:可以分析任何基底材料,只要基底材料中不包含涂層材料中存在的元素。


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